Positionering van lasnaden op blikken

Blik (voor conserven) is voorzien van een lasnaad om twee delen aan elkaar te maken. Deze lasnaad moet gedetecteerd worden. Dit is om te weten hoe het blik in de machine gepositioneerd is. Door het glanzende oppervlak van de blikjes is het voor veel sensoren te uitdagend om een betrouwbare detectie te doen van de laslijn of lasnaad. Hiervoor kan een contrast sensor gebruikt worden die in staat is om een lasnaad detectie op het blik uit te voeren. Ook kan een kantdetectie sensor gebruikt worden voor de lasnaad detectie op blikjes.

Contrast sensor of kantdetectiesensor voor een betrouwbare detectie van lasnaden

De SPECTRO-1-FIO-UVC/UVC is een contrast sensor die in combinatie met het gebruik van een fiber optiek in staat is om een lasnaad detectie op blik uit te voeren. De afstand van de fiberoptiek tot de lasnaad is ongeveer 8 mm en de spot grootte is ongeveer 5 mm in diameter. Door het gebruik van een Fiber kan de meting in een hele kleine ruimte plaatsvinden. Onze experts helpen u graag voor meer informatie of met het zoeken naar de geschikte fiber optiek voor uw applicatie. De optiek van de zender is in het midden van de optiek van de ontvanger geplaatst. Dit bespaart ruimte en geeft een snelle, betrouwbare detectie van de laslijnen.

Een andere oplossing is de RED-110 kantdetectiesensor, dit is een laser sensor welke ook geschikt is voor een lasnaad detectie op blik. De werkafstand van deze sensoren is optimaal bij 110 mm. Deze sensoren geven een zeer betrouwbaar resultaat en hebben een hoge meetfrequentie, tot wel 100kHz. Hierdoor kan de sensor ingezet worden in hele snelle productielijnen. De RED sensoren zijn beschikbaar met een punt- of lijnoptiek. De sensoren worden geleverd inclusief software.

Om in een productieomgeving goed te kunnen functioneren is de RED kantdetectiesensor voorzien van verschillende functies. Deze zorgen voor een robuuste meting, denk hierbij aan:

• vervuilingscompensatie;
• omgevingslicht compensatie;
• automatische aanpassing van de laser op de verschillende meetoppervlaktes van de applicatie.